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KIKUSUI 菊水TOS7210S絕緣測試儀資料

更新時(shí)間:2016-08-26        閱讀量:3479

PID絕緣測試儀(TOS7210S)是為準(zhǔn)確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現(xiàn)象進(jìn)行評估,以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎(chǔ)設(shè)計(jì)而成的測試儀。 
附有極性切換功能,輸出電壓可達(dá)2000V,同時(shí)裝載了nA分辨率的電流表,因此不僅可以進(jìn)行PID評估,還可以用于要求進(jìn)行高敏感度測試的絕緣體評估測試。標(biāo)準(zhǔn)安裝了可從外部調(diào)用的面板存儲(chǔ)器及RS232C接口,因此也可以靈活對應(yīng)自動(dòng)化系統(tǒng)。

什么是PID現(xiàn)象?
PID現(xiàn)象是指太陽能電池與邊框長期被施以高電壓,電池發(fā)電量顯著降低的現(xiàn)象。目前認(rèn)為所施加的電壓越高,越是在高溫、高濕的環(huán)境下劣化現(xiàn)象越嚴(yán)重。如晶體硅太陽能電池模塊的輸出電壓即使只有數(shù)十V,一旦直接連接的片數(shù)增加,串內(nèi)的電位差將變得非常高。一方面,PCS(Power Conditioning System)作為交流電源與系統(tǒng)相連,使接地形態(tài)發(fā)生變化。輸入端采用浮接(一側(cè)電極不能接地線)的無變壓器方式近年有所增加。這種情況下電池和地線間將發(fā)生高電位差?,F(xiàn)在可明確的是,晶體硅太陽能電池模塊中,相對于邊框(接地線)負(fù)極電位高的電池容易發(fā)生PID現(xiàn)象。(請參照圖1)目前,日本國內(nèi)以zui大600V、歐洲以zui大1000V的系統(tǒng)電壓運(yùn)行太陽能電池模塊,但是目前出現(xiàn)了提高zui大系統(tǒng)電壓以削減企業(yè)用大規(guī)模太陽能發(fā)電系統(tǒng)的串?dāng)?shù)、PCS總數(shù),提高發(fā)電效率的趨勢。 

圖2模擬了晶體硅太陽能電池模塊的處于高電位差的狀況。邊框?yàn)檎龢O電位、模塊電路處于負(fù)*電位的狀況。目前認(rèn)為是由于超白鋼化玻璃內(nèi)的鈉離子向電池側(cè)遷移而引起劣化。(薄膜太陽能電池模塊也被確認(rèn)出現(xiàn)PID現(xiàn)象,但是發(fā)生劣化的機(jī)制與晶體硅太陽能電池模塊不同。)現(xiàn)在,各種研究機(jī)構(gòu)正在通過研究、試驗(yàn)查找PID現(xiàn)象的原因。

 特長

  • 可任意設(shè)定輸出電壓
    可將對被檢品施加的測試電壓設(shè)定在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范圍內(nèi)。假設(shè)太陽能發(fā)電系統(tǒng)的電壓在1000V以上,可對其進(jìn)行評估。此外,在電氣/電子部件、電氣/電子設(shè)備的絕緣電阻測試中,也可對應(yīng)JIS C 1302: 1994所規(guī)定的電壓范圍以外的測試。在50V-1000V范圍內(nèi),輸出特性以JIS C 1302: 1994為基準(zhǔn)。 
  • 極性切換功能
    可通過主機(jī)面板的開關(guān)輕松切換輸出極性。PID現(xiàn)象是一種可逆現(xiàn)象,施加負(fù)偏壓電壓可能會(huì)恢復(fù)。極性切換是一項(xiàng)不需要對被檢品實(shí)施配線變更的便利功能。此外,通過RS232C接口可實(shí)施由外部控制的切換。 
  • 建立輸出端的浮地
    輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài)(*1)。此外,使用屏蔽電纜作為輸出電纜 (TL51-TOS)。這樣就不會(huì)測量被檢品與大地間的電流,只測量測試點(diǎn)間的電流,可確保評估測試的高敏感度和性。
    *1:設(shè)定為正極的端子的對地電壓(±1000Vdc)設(shè)定為負(fù)極的端子的對地電壓(+1000Vdc及-3000Vdc) 
  • 模擬輸出端子
    在電阻顯示模式中,基于對數(shù)壓縮將對應(yīng)電阻測量值的電壓輸出限制在0V-4V之間。在電流顯示模式中,對應(yīng)電流測量值及測量量程(4個(gè)量程)按線性標(biāo)度輸出。使用數(shù)據(jù)記錄器等外部記錄設(shè)備可對被檢品的變化、劣化狀況進(jìn)行解析。

 

型號規(guī)格
TOS7210S (SPEC80776) PID絕緣測試儀(TOS7210S)是為準(zhǔn)確有效地對太陽能電池模塊的PID(Potential Induced Degradation)現(xiàn)象進(jìn)行評估, 以絕緣電阻測試儀(TOS7200)為基礎(chǔ)設(shè)計(jì)而成的測試儀, 可在50Vdc-2000Vdc(分辨率1V)范圍內(nèi)實(shí)施設(shè)定, 可通過面板側(cè)的開關(guān)即時(shí)切換施加電壓極性, 輸出端子與接地電位間為浮地狀態(tài), 只測量通過測量點(diǎn)間的電流. 可對電流測量值或電阻測量值進(jìn)行切換顯示, 測試線(TL51-TOS)包括

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