吉時利先進器件測量和材料表征技術研討會

吉時利身為新興測量需求解決方案，長期致力于不斷推出新產(chǎn)品、新技術和新方法，以滿足高精度、高速度、高靈敏度和分辨率的測試測量需求。我們歡迎中國工程師朋友們通過三地的研討會了解這些產(chǎn)品和方案，為他們的工程項目帶來*的測試解決方案。"吉時利市場部潘斌說道，“從微弱信號測量到先進的納米器件測試，從的器件設計研發(fā)到制程可靠性的測試，從先進的存儲器測試到新能源器件的測試，吉時利的經(jīng)典產(chǎn)品—半導體器件測試系統(tǒng)為廣大業(yè)內客戶提供了強大的測試手段。"

屆時，吉時利資深技術應用工程師將在研討會現(xiàn)場與出席本次研討會的工程師深入交流下面主要領域的技術與解決方案：

先進的材料和器件特性分析系統(tǒng)
先進的材料和器件特性分析系統(tǒng)4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導體工藝電學特性分析的完整解決方案。這種先進的參數(shù)分析儀具有*的測量靈敏度和精度，同時集成了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時利交互式測試環(huán)境，廣泛地應用于先進半導體材料和器件，綠色能源器件，納米電子材料和器件的特性分析。4200-SCS系統(tǒng)為科研人員提供了直觀而的功能，是一套功能強大的單機解決方案。

半導體C-V測試技術和技巧
電容-電壓（C-V）測試廣泛用于測量半導體參數(shù)，尤其是MOSCAP和MOSFET結構。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導體器件和工藝進行特征分析，包括雙極結型晶體管（BJT）、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機TFT顯示器、光電二極管、碳納米管（CNT）和多種其他半導體器件。吉時利在C-V測試方面有著豐富的經(jīng)驗，可以提供zui完整的C-V測試庫。

納米器件、半導體參數(shù)、WLR晶圓級可靠性和存儲器測試
本主題將介紹納米器件測試、半導體參數(shù)測試，以及WLR晶圓級可靠性測試、存儲器測試。專家將現(xiàn)場分享如何提高測試系統(tǒng)對新材料、器件和工藝進行特征分析的能力，輕松實現(xiàn)DC、I-V、C-V和脈沖測試測量以及微弱信號測量難點與應對方案等。

吉時利2450 型觸摸屏數(shù)字源表
吉時利2450型觸摸屏數(shù)字源表是容性觸摸屏SMU，所以加電后立即就能直觀輕松地設置和使用。本次研討會上，吉時利的專家將現(xiàn)場介紹全新推出的SMU 2450，提供功能展示。嶄新的界面與操作，令您耳目一新！

使用電源測量直流功耗優(yōu)化產(chǎn)品耗電特性
低功耗產(chǎn)品的電池耗電特性是研發(fā)工程師關注的重要問題，吉時利PMS 2280S精密測量電源為產(chǎn)品的直流耗電測量提供了全新的解決方案。在輸出更大功率的同時，仍然保持了高品質的電源性能，以及媲美六位半萬用表的測量精度。為工程師了解產(chǎn)品直流耗電特性提供了強有力的工具。