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首頁 > 產(chǎn)品中心 > 鼎陽 > 鼎陽網(wǎng)絡(luò)分析儀 > SNA5000X系列頻譜矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀簡要描述:頻譜矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種電磁波能量的測(cè)試設(shè)備,主要用于測(cè)量和分析高頻電路中的傳輸參數(shù)。它能夠同時(shí)測(cè)量幅度和相位信息,并提供高精度的測(cè)量結(jié)果。此外,矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀還能通過史密斯圓圖顯示測(cè)試數(shù)據(jù),更便于工程應(yīng)用和調(diào)試。
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 覆蓋頻率 | 9 kHz~8.5 GHzMHz |
---|---|---|---|
顯示方式 | 液晶屏 | 外形尺寸 | 378mm×284mm×126mmmm |
重量 | 7.4Kgkg | 電動(dòng)機(jī)功率 | 70 WkW |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
SNA5000X系列頻譜矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特性:
從S參數(shù)測(cè)試到平衡-不平衡測(cè)試
SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測(cè)試,并且具備多種顯示格式,比如LogMag,LinMag,Phase,Delay,Smith,SWR,Polar等,可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù),反射系數(shù),駐波比,阻抗匹配,相位,延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線,濾波器等的特性時(shí),還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過失敗測(cè)試,有利于提高生產(chǎn)效率。
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能,比如在測(cè)試有源差分放大器時(shí),可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換,從而進(jìn)行差分(平衡)測(cè)量(比如Scc,Sdd,Scd,Sdc等參數(shù))。此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測(cè)試。
時(shí)域分析功能
SNA5000X系列支持TDR時(shí)域反射計(jì)測(cè)量功能,可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗,時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。
眼圖分析
SNA5000X搭載了眼圖功能,眼圖可以反映信號(hào)鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號(hào)的整體特征,從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響,進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號(hào)完整性分析的核心,為需要對(duì)高速信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。
消除夾具效應(yīng)
在微波射頻領(lǐng)域,如何有效消除有害的測(cè)試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對(duì)SMD器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)需要特定的測(cè)試夾具實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器測(cè)試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果中包含了測(cè)試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測(cè)試夾具影響的方法主要有:端口延伸,端口匹配,端口阻抗轉(zhuǎn)換,去嵌入,適配器移除等。
最高頻率 | 4.5 GHz/8.5 GHz |
頻率分辨率 | 1 Hz |
幅度分辨率 | 0.05 dB |
中頻帶寬范圍 | 10 Hz~3 MHz |
輸出功率設(shè)置范圍 | -55 dBm ~ +10 dBm |
動(dòng)態(tài)范圍 | 125 dB |
校準(zhǔn)類型 | 響應(yīng)校準(zhǔn),增強(qiáng)響應(yīng)校準(zhǔn),單端口校準(zhǔn),全二端口校準(zhǔn),全三端口校準(zhǔn),全四端口校準(zhǔn),TRL校準(zhǔn) |
是 | |
通信接口 | LAN,USB Device,USB Host(USB-GPIB) |
遠(yuǎn)程控制 | SCPI / Labview / IVI based on USB-TMC / VXI-11/ Socket / Telnet / Webserver |
觸摸控制 | Multi Touch,Mouse,Keyboard |
屏幕尺寸 | 12.1 英寸 |
視頻輸出 | HDMI |
測(cè)量分析類型 | S參數(shù)測(cè)量,差分(平衡)測(cè)量,接收機(jī)測(cè)量,時(shí)域分析、極限測(cè)試、紋波測(cè)試、帶寬分析、阻抗轉(zhuǎn)換、端口匹配、去嵌入功能等 |
產(chǎn)品分類
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